%0 Journal Article
%A Boulanger, Jean-François
%A Corset, Franck
%A Iutzeler, Franck
%A Lelong, Jérôme
%T Classifying and explaining defects with small data for the semiconductor industry
%J MathematicS In Action
%D 2022
%P 109-114
%V 11
%N 1
%I Société de Mathématiques Appliquées et Industrielles
%U http://archive.numdam.org/articles/10.5802/msia.20/
%R 10.5802/msia.20
%G en
%F MSIA_2022__11_1_109_0