%0 Journal Article
%A Chauveau, Didier
%T Algorithmes EM et SEM pour un mélange censuré de distributions de défaillances. Application à la fiabilité d'équipements électroniques en période de jeunesse
%J Revue de Statistique Appliquée
%D 1992
%P 67-76
%V 40
%N 2
%I Société de Statistique de France
%U http://archive.numdam.org/item/RSA_1992__40_2_67_0/
%G fr
%F RSA_1992__40_2_67_0