De la statistique dans l'industrie : un exemple à Freescale
Journal de la Société française de statistique, Tome 145 (2004) no. 1, pp. 71-95.
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Bergeret, F.; Chandon, Y.; Le Gall, C. De la statistique dans l'industrie : un exemple à Freescale. Journal de la Société française de statistique, Tome 145 (2004) no. 1, pp. 71-95. http://archive.numdam.org/item/JSFS_2004__145_1_71_0/

Ambrozic C. (2003), Automation for the 300mm fab : A Strategy for Integrating FDC Using Multivariate Analysis, AEC/APC 15.

Banks D. (1993), Is industrial statistics out of control?, Statistical Science, 8, 356-409.

Bergeret F., Besse P. (1997), Simulated Annealing, Weighted Simulated Annealing and Genetic Algorithm at work, Computational Statistics, vol. 12 (4), pp. 447-465. | Zbl

Bergeret F., Besse P. (1999), Recherche d'une étape défaillante dans un procédé industriel : quand le désordre est source d'information, Revue de Statistique Appliquée, vol. XLVII (3), pp. 27-37.

Bergeret F., Chandon Y. (1995), Recherche d'une séquence de tests optimale en contrôle de fabrication, Revue de Statistique Appliquée, XLIII (3), pp. 21-33.

Bergeret F., Le Gall C. (2003), Yield Improvement using Statistical Analysis of Process Dates, IEEE transactions on Semiconductor manufacturing, vol. 16 (3), pp. 535-542.

Besse P., Le Gall C. (2004), Application and Reliability of Change-Point Analyses for Detecting a Defective Stage in Integrated Circuit Manufacturing. Prépublication à soumettre. | Zbl

Box G.E.P., Liu P. (1999), Statistics as a Catalyst to Learning by a Scientific Method, Journal of Quality Technology, vol. 31 (1), 1-15.

Breiman L. (1996), Bagging Predictors, Machine Learning, vol. 24 (2), pp. 123-140. | Zbl

Chandon Y., Mathieu J.R. (1993), Design of experiment to test sigma reduction in a critical dimension measurement apparatus, Characterization and Optimization, Motorola University Press.

Deming W.E. (1982), Out of the Crisis, MIT center for advanced engineering study.

Deming W.E. (1994), The New Economics, MIT center for advanced educational services.

Derringer D., Suich R. (1980), Simultaneous Optimization of Several Responses Variables, Journal of Quality Technology, vol.12 (4), pp. 214-219.

Diaconis P. (1988), Groups Representation in Probabilities and Statistics, IMS, Hayward, CA.

Green P.J. (1996), Reversible jump Markov chain computation and bayesian model determination, Biometrika, vol. 82, pp. 711-732. | MR | Zbl

Lavielle M. (2002), On the use of penalized contrasts for solving inverse problems. Application to DDC (Détection of Diverse Changes) problem. Soumis.

Pasqualini F., Baudier M., Lafaye De Micheaux D., Lemaire F. (2002), Using Global Process Control in Semiconductor fabs to achieve APC, Micromagazine. http ://www.micromagazine.com/archive/02/01/Pasqualini.html.

Roberts H.V. (1990), Applications in Business and Economic Statistics, Statistical Science, 4, 372-402.

Samset O. (1999), Identifying active factors from non-geometric Plackett-Burman designs and their half-fractions, technical report 4, départment of Mathematical Sciences, The Norwegian University of Science and Technology, Norway.

Tassi P., Droesbeke , J.-J. (1997), Histoire de la statistique, Que sais-je?, Presse Universitaire de France. | Zbl

Valois J . P. (2000), Sur l'approche graphique en analyse des données (avec discussion), Journal de la Société Statistique de France, 141, 4.

Woodall W.H. (2000), Controversies and Contradictions in Statistical Process Control, Journal of Quality Technology, vol. 32 (4), pp. 341-350.

Ye K.Q. (1998), Orthogonal Column Latin Hypercube and their application in computer experiments, Journal of the American Statistical Association, vol. 93, No 444, pp. 1430-1439. | MR | Zbl