Plans d'échantillonnage double par mesures avec une seule limite de tolérance et une caractéristique de qualité normalement distribuée
Revue de Statistique Appliquée, Tome 26 (1978) no. 1, pp. 45-57. 
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JO  - Revue de Statistique Appliquée
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Sturhahn, Jürgen. Plans d'échantillonnage double par mesures avec une seule limite de tolérance et une caractéristique de qualité normalement distribuée. Revue de Statistique Appliquée, Tome 26 (1978) no. 1, pp. 45-57. http://archive.numdam.org/item/RSA_1978__26_1_45_0/

[1] Bulgren W.G., Dykstra R.L., Hewett J.E. - A bivariate t-Distribution with Applications, Jasa, Vol. 69, 1974, pp. 525-532. | MR | Zbl

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[5] Stange K. - Angewandte Statistik, 1. Teil, Eindimensionale Probleme, Springer-Verlag, Berlin, Heidelberg, New York, 1970. | MR | Zbl

[6] Sturhahn J. - Doppelstichprobenpläne für messende Prüfung, Diss. RWTH Aachen, 1976.

[7] Wilrich P.-Th. - Nomogramme zur Ermittlung von Stichprobenplänen für messende Prüfung bei einer einseitig vorgeschriebenen Toleranzgrenze, Teil 2: Pläne bei unbekannter Varianz der Fertigung, QZ 15 (1970), S. 181-187.