Comparaison de différentes analyses statistiques spatiales pour détecter une défaillance dans la fabrication de circuits intégrés
Revue de Statistique Appliquée, Tome 52 (2004) no. 1, pp. 5-37. 
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TY  - JOUR
AU  - Le Gall, Caroline
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Le Gall, Caroline. Comparaison de différentes analyses statistiques spatiales pour détecter une défaillance dans la fabrication de circuits intégrés. Revue de Statistique Appliquée, Tome 52 (2004) no. 1, pp. 5-37. http://archive.numdam.org/item/RSA_2004__52_1_5_0/

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