Fonctions croissantes et mesures sur les espaces topologiques ordonnés
Annales de l'Institut Fourier, Tome 6 (1956), pp. 187-269.

Étude du problème suivant : X étant un espace topologique ordonné et F une application de X dans un groupe topologique ordonné Y, quelles conditions y a-t-il lieu d’imposer à X, à F et à Y pour qu’il existe une mesure μ définie sur un ensemble de parties de X, pour laquelle le cône négatif C - (x) (ensemble des u∈X vérifiant y<x) soit mesurable-μ et ait pour mesure μC - (x)=F(x) pour tout x∈X.

Applications : capacités ; répartitions de probabilité ; fonctionnelles. Étude de l’intégration relativement à une mesure ainsi définie.

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Revuz, André. Fonctions croissantes et mesures sur les espaces topologiques ordonnés. Annales de l'Institut Fourier, Tome 6 (1956), pp. 187-269. doi : 10.5802/aif.64. http://archive.numdam.org/articles/10.5802/aif.64/

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