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  • Revue de Statistique Appliquée
  • Tome 16 (1968)
  • no. 1

Sommaire


Quelques remarques sur les plans d'échantillonnage
Vessereau, A.
p. 5-35

Expressions générales concernant la fiabilité de systèmes réparables
Cavé, R.
p. 37-57

Simulation par aléatoires de l'indice de concordance de Theil
Giraud, R. ; Thionet, P.
p. 59-75

Puissance de quelques tests classiques effectif d’échantillon pour des risques α,β fixés
Morice, E.
p. 77-126
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